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      介質(zhì)損耗測試儀的常見(jiàn)故障要怎么處理?

      添加時(shí)間:2020-07-08 09:35:16   瀏覽次數: 次    【 】   打印   關(guān)閉窗口

             介質(zhì)損耗測試儀也稱(chēng)為抗干擾介質(zhì)損耗測試儀,采用變頻zhi電源技術(shù),利用單片機和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數轉換和數據運算,自動(dòng)化,智能化,測量數據在強干擾條件下是穩定的,但測試數據在使用中顯然是不合理的通常如下。

             在現場(chǎng)測試時(shí),用鉤桿對產(chǎn)品進(jìn)行檢測時(shí),吊鉤須與試驗產(chǎn)品良好接觸,否則接觸件的排放會(huì )引起嚴重的數據波動(dòng),特別是在過(guò)厚的氧化層或空氣管擺動(dòng)的排水管中導致接觸不良。

             接地不良也會(huì )引起儀表保護數據的嚴重波動(dòng),接地點(diǎn)的涂層應報廢,零電阻接地。

             用端蓋法測量電磁式PT時(shí),由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò )干擾引起的負介電損耗可以用常規法或端壓法測量,直接測量CVT的低耦合電容會(huì )導致負的介電損耗,因此應采用自激法。

             由于長(cháng)期使用,容易造成試驗線(xiàn)隱性短路,芯線(xiàn)屏蔽層短路或與插頭接觸不良,用戶(hù)應始終維護測試線(xiàn)。當測試標準電容器測試產(chǎn)品時(shí),應使用全屏蔽插頭來(lái)消除額外雜散電容的影響,否則,介質(zhì)損耗測試儀的精度就無(wú)法反映出來(lái)。自勵方法是測量VT中的C,非高壓線(xiàn)路應暫停,否則,附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會(huì )導致地面測量誤差。

             使用萬(wàn)用表測量測試電路是否開(kāi)路,或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路,輸入功率過(guò)高或過(guò)低,接地良好,使用正極或負極導線(xiàn)測量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標準電容器或電容器樣品,如果結果正確,則可判斷儀器故障。


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